射频传导抗扰度的测试依据

IEC 61000-4-6/GB T 17626.6：射频场感应的传导抗扰度试验

在通常情况下，被干扰设备的尺寸要比频率较低的干扰波（例如80MHZ以下频率）波长小很多，相形之下，设备引线（包括电源线及其架空线的延伸，通信线和接口电缆线等）的长度则可能达到干扰波的几个波长（或更长）。这样，设备引线就变成被动天线，接受射频场的感应，变为传导干扰侵入设备内部，终以射频电压和电流形成的近场电磁场影响设备的工作。

射频场感应所引起的传导干扰与射频场辐射电磁干扰恰成一对，相互补充，形成150khz-1000mhz全频段抗扰度试验，其中150khz-80mhz为传导抗扰度试验，80-1000mhz为辐射抗扰度试验。

  射频传导干扰的耦合电路，它可以将干扰信号很好的耦合到与受试设备相连的各种电缆上，它在规定频率范围内具有规定的共模阻抗，从受试设备端口看进去的共模阻抗在0.15-26mhz范围内为150w±20w,在26-80mhz范围内为150w（＋60w~-40w）干扰耦合设备有耦合/去耦网络和耦合夹。

      于低频（150kHz-80MHz/230MHz）的射频信号，由于其波长比EUT尺寸要长得多，EUT的互连电缆（包括电源线和信号线）比EUT本身更成为天线而接收电磁场，因此射频抗扰度试验的低频部分，采用传导测试量方式，更直接。射频传导抗扰度测试使用的信号和IEC 61000-4-3完全相同，只是频率范围不同。